蒸氣老化壽命試驗(yàn)箱 & HRS-5470

采用微電腦溫度控制器P.I.D+P.W.M+S.S.R控制LED數(shù)字顯示。T型熱電耦，感應(yīng)器與**的溫度可控制解析能力0.1℃。蒸器試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)設(shè)定控制，蒸器試驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)計(jì)時(shí)設(shè)定控制。可擴(kuò)充預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間控制裝置，純水逆滲透自動(dòng)供水裝置。

蒸氣老化壽命試驗(yàn)箱 & 應(yīng)用：

蒸汽老化箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。

采用微電腦溫度控制器P.I.D+P.W.M+S.S.R控制LED數(shù)字顯示。T型熱電耦，感應(yīng)器與**的溫度可控制解析能力0.1℃。

蒸器試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)設(shè)定控制，蒸器試驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)計(jì)時(shí)設(shè)定控制。可擴(kuò)充預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間控制裝置，純水逆滲透自動(dòng)供水裝置。

T型熱電耦感知器與**的溫度可控制解析能力0.1℃。

蒸氣老化壽命試驗(yàn)箱 & 技術(shù)參數(shù)：